a. 设计校核测试
如其名称所表示的那样,设计校核测试(DVT)通常是用于确认一个产品是否达到了其预期的性能标准。DVT一般不包括顺序测试,它只测试产品是否已达到了所设定的基本功能标准。例如,DVT包括总的电阻测试、耐用周期(或循环测试)及插拔配合力的测试。DVT是在产品开发过程中进行的,而且成为一个广为认同的测试程序中必不可少的一部分。
b. 验收测试
验收测试通常在生产加工过程进行并成为终检的一部分,它包括一个或两个独立的测试,藉这些测试以保证产品之特定属性达到要求的性能质量的水平并符合产品运行要求。它是生产过程的一部份,其使用程度是由最终使用者自己来决定的,并基于品保的目的也可被采购部门加以利用。
c. 质量鉴定
质量鉴定通常结合设计的需要进行一系列连续测试(也就是对电镀类型及镀层厚度,端子材料等的测试),这将使Connector/Socket有条件达到一个特定的规格要求,而这种规格也许来自于产品、最终使用者或工业标准。测试环境的保持时间一般是较短的或适度的(大约是100或240个小时),且其包括对类型广泛的各种特性或运行特征的监测。最普通的质量鉴定测试类型是以军用的规格来要求的。这些测试不需要测定连接器系统的长期运行性能,但要确定是否有严重的问题存在。正常的质量鉴定测试仅仅在于解决已有技术和已知的材料体系问题。
d. 长期性能(质量)鉴定
这种测试涉及以长期暴露方式进行、并且通常集中于对连接器系统的电气稳定性评估方面的一系列连续测试,确定持续暴露时间以确定在该产品或体系的预计寿命内,其是否对与时间有关的失效机理敏感。(测试)持续时间长度的确定即依赖于经验,也依赖于与本领域的测试条件/暴露时间有关的综合因素。
e. 可靠性测试
在传统的观念中可靠性测试是复杂的,也很少在连接器上进行,这种根据操作环境和应功能需要的测试在应用上是明确的。可靠性测试包括在预计的应用环境中进行的持续一定时间的耐久性测试,以及大尺寸样品的大量数据采集点,而这需要对采集的数据进行深入地统计学上的处理。Mroczkowski and Maynard对这方面进行了更详细的阐述。
只有在考虑到批量和应用的长久性时,可靠性测试在经济上才是可行的。确定了的可靠性仅能应用于最初流程中的相关的设计特征及生产指数上。在确定了一个产品的可靠性级数(或程度)后设计/材料的变化会使可靠性评估毫无效果。在本章中将不对这类测试作详细的讨论。
f. 工程研究、分析性试验
这项试验包括工艺试验和设计结构更改的研究性试验两个主要方面。其目的和任务是:对批生产的产品所发生的质量问题进行分析研究;拟定新的设计结构,改进现有的设计结构;确定材料代用或采用新工艺、新技术的可能性;考核产品能否满足技术条件之外的特殊要求。