波导膜片带通滤波器的公差分析及温漂特性预测

vire_wang

案例简介
一般来说，通过软件或自编译算法优化设计好一个波导器件后，其性能非常理想。然而由于加工的精度有限，加工后必然会在结构尺寸上引入一定的误差并在很大程度上影响器件性能，如果性能损坏严重且后期调试范围有限，该产品极有可能因不能满足指标而报废。此外，对于工作带宽较窄的波导器件（如滤波器、双工器、多工器）来说，由于受到器件自身欧姆损耗造成的温升及工作环境温度的影响，会出现“热胀冷缩”的尺寸变化，导致频率响应的漂移（即温漂特性），同样可能造成产品在极端环境下不能满足技术指标。
因此，在完成器件的设计之后，还需通过完备的公差分析及温漂效应分析计算确保当前设计出来的产品在有限加工精度以及实际工作环境温度下的良好性能和正常工作。
该案例介绍了如何通过软件 WASP-NET 的公差分析工具及尺寸缩放功能实现一个波导膜片带通滤波器的公差分析及温漂特性预测。其他类似的波导器件，均可以通过相同方法及流程实现公差及温漂特性的预测分析。
WASP-NET软件是业内第一个采用了快速MM（模式匹配法）与FE（有限元）/ MoM （矩量法）/ FD （有限差分） 四种方法的混合求解技术的电磁仿真软件（后续8.0版本已经加入FEBI，MOM/PO 求解器），具有求解精度高、计算速度快的特点。该软件主要用于波导结构的微波器件及天线的设计仿真优化。
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[ 本帖最后由 vire_wang 于 2012-3-27 17:49 编辑 ]