光刻分辨率(R)主要由三个因数决定,分别是光的波长(λ)、光可穿过透镜的最大角度(镜头孔径角半角θ)的正弦值(sinθ)、折射率(n)以及系数k1有关。除了光刻分辨率之外,焦距深度( Depth of Focus,DOF)也至关重要,大的焦深可以增大刻蚀的清晰范围,提高光刻的质量,而焦距深度也可以通过提高系统的折射率(n)来改进。
Martin van den Brink 曾经指出,Hyper-NA 微影曝光设备最终是否导入的决定,将取决于ASML能够降低成本的程度。然而,在ASML 与客户讨论了Hyper-NA EUV 微影曝光设备的必要性和可行性之后,客户使用Hyper-NA EUV 微影曝光设备来大规模生产逻辑和存储器芯片的技术条件已经存在,这预计将是下一个十年半导体产业的重要变化。