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标题: 关于memory的基础知识以及SI测试、基带压测等等 [查看完整版帖子] [打印本页]

时间: 2024-3-14 12:29

作者: 神思光电达人 标题: 关于memory的基础知识以及SI测试、基带压测等等

以下是关于memory的基础知识：

RAM（Random Access Memory）：RAM是计算机中的临时存储设备，用于存储正在执行的程序和数据。RAM是易失性存储器，意味着当计算机关闭时，其中的数据将丢失。RAM主要分为两种类型：DRAM（Dynamic RAM）和SRAM（Static RAM）。
DRAM（Dynamic RAM）：DRAM是一种常见的内存类型，用于主要内存存储。它由许多存储单元组成，每个单元都由一个电容器和一个晶体管组成，用于存储位。DRAM需要周期性地刷新存储的数据，以防止数据丢失。
SRAM（Static RAM）：SRAM是一种更快速、更稳定的内存类型，通常用于高速缓存和寄存器。与DRAM不同，SRAM不需要刷新操作来维持存储的数据，但它通常比DRAM更昂贵。
辅助存储器：辅助存储器用于长期存储数据，包括硬盘驱动器（HDD）、固态驱动器（SSD）、光盘等。辅助存储器的数据可以在计算机关闭后保持不变。

当涉及到SI（Signal Integrity）测试和基带压测时，这些是在设计和测试电子设备时的两个重要方面：

SI测试：Signal Integrity测试是用于评估信号在电路板、连接器、传输线等电子系统中传输的质量和可靠性的过程。SI测试涉及对信号的传输特性进行分析，以确保信号的完整性和稳定性。这些测试通常包括对信号的延迟、波形畸变、串扰等参数的测量和分析。
基带压测：基带压测是指在通信系统中，对基带信号进行测试和分析的过程。基带信号是未经调制的原始信号，通常表示为数字信号。基带压测旨在评估通信系统的性能，包括数据传输速率、误码率、传输延迟等。这些测试对于评估通信系统的性能和稳定性至关重要，尤其是在高速通信系统中。

时间: 2024-3-17 13:58

作者: 雪地神鹰

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